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    功率半導體參數測試儀

    更新時間:2022-02-24

    簡要描述:

    功率半導體參數測試儀被測器件引腿接觸自動判斷功能,遇到器件接觸不良時系統自動停止測試,確保被測器件不受損壞

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    功率半導體參數測試儀系統特征:

    ● 測試范圍廣(19大類,27分類)
    ● 采用脈沖測試法,脈沖寬度為美軍標規定的300uS
    ● 真正的動態跨導測試。(主流的直流方法測動態跨導,其結果與器件實際值偏差很大)
    ● 系統故障在線判斷修復能力,便于應急處理排除故障

     

    功率半導體參數測試儀基礎配置:

    技術參數

    ENJ2005-B型

    主極電流

    100nA-50A

    擴展電流

    100A、500A、1000A、1300A

    電壓分辨率

    1mV

    電流分辨率

    1nA(可擴展至10pA)

    測試精度

    0.2%+2LSB

    測試速度

    0.5mS/參數

    分立器件測試儀測試參數:

    漏電參數:IR、ICBO、LCEO/S/X、IDSS/X、IDOFF、IDRM、IRRM、ICOFF、IDGO、ICES、     IGESF、IGESR、IEBO、IGSSF、IGSSR、IGSS、IGKO、IR(OPTO)
    擊穿參數:BVCEO   BVCES(300μS Pulse above 10mA)BVDSS、 VD、  BVCBO、 VDRM、 VRRM、 VBB、BVR 、 VD+、VD-、BVDGO、BVZ、
                    BVEBO、 BVGSS、 BVGKO
    增益參數:hFE、CTR、gFS、
    導通參數:VCESAT、VBESAT、VBEON、 VF、VT、VT+、VT-、 VON、VDSON、VDON、VGSON、VF(Opto-Diode)VGSTH、VGETH、VTM、VSD、
                    IDON、VSAT、IDON、 Notch = IGT1,IGT4、ICON、VGEON、VO    (Regulator)、IIN(Regulator)
    混合參數:rDSON、gFS、Input Regulation、Output Regulation
    關斷參數:VGSOFF      
    觸發參數:IGT、VGT
    保持參數:IH、IH+、IH-
    鎖定參數:IL、IL+、IL-

    產品以高度集成化、智能化、高速高精度、超寬測試范圍等競爭優勢,將廣泛應用于IDM廠商、器件設計、制造、封裝廠商及高校研究所等;

    深圳華科智源科技有限公司-,功率器件測試方案供應商,2025中國制造 • 芯片設計及封裝 • 新能源及軌道交通 • 來料選型。

     

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